X射線衍射儀可滿足不同測試目的需要

　　
　　
　　X射線衍射儀可實現(xiàn)無損的物相定性和定量分析，而且利用衍射峰位、衍射峰強度、衍射峰線形等信息可以進行材料晶體結構的表征，如：點陣常數(shù)的精密測定，晶粒尺寸和微觀應變計算，宏觀殘余應力測定,結晶度計算等；X射線衍射分析方法是材料微觀結構表征zui常規(guī)和zui有效的方法之一
　　
　　X射線衍射儀采用單片機控制技術，模塊化設計，使高壓發(fā)生器部分控制、穩(wěn)定、自動化程度高，高壓的開關及升降、光閘的開關均由計算機終端控制。為了使儀器自動化程度更高、性能更穩(wěn)定，我們研制了高頻高壓X射線發(fā)生器。該產(chǎn)品采用高頻高壓技術，*拋棄以往的倍壓整流模式，體積小、重量輕且故障率極低。
　　
　　X射線衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設計的，是常規(guī)分析與特殊目的測量相結合的完善產(chǎn)品。
　　
　　◆硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的結合，滿足不同應用領域學者、科研者的需要
　　
　　◆高精度的衍射角度測量系統(tǒng)，獲取更準確的測量結果
　　
　　◆高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng)，得到更穩(wěn)定的重復測量精度
　　
　　◆各種功能附件滿足不同測試目的需要
　　
　　◆程序化操作、一體化結構設計，操作簡便、儀器外型更美觀
　　
　　X射線衍射儀是揭示材料晶體結構和化學信息的一種通用性測試儀器：
　　
　　◆未知樣品中一種和多種物相鑒定
　　
　　◆混合樣品中已知相定量分析
　　
　　◆晶體結構解析（Rietveld結構分析）
　　
　　◆非常規(guī)條件下晶體結構變化（高溫、低溫條件下）
　　
　　◆薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度
　　
　　◆微區(qū)樣品的分析
　　
　　◆金屬材料織構、應力分析